Le boîtier d’expérimentation complet GLSM-01 pour circuits numériques et analogiques est principalement utilisé pour les expériences sur les circuits numériques et analogiques en électronique. De structure modulaire, chaque module est indépendant des autres. La combinaison de différents composants dans chaque zone permet de réaliser une grande variété de circuits expérimentaux. Le schéma du circuit est imprimé sur la face avant du boîtier, tandis que les composants sont intégrés à l’arrière. Chaque point de test est équipé d’un trou de test. Ce boîtier est facile à utiliser, fiable, durable et très performant. L’unité principale est fournie avec des modules d’expérimentation compatibles. Des modules d’extension peuvent être sélectionnés en fonction des besoins pour compléter le contenu expérimental et répondre aux exigences de l’enseignement expérimental.
I. Présentation de l’équipement
Le boîtier d’expérimentation complet GLSM-01 pour circuits numériques et analogiques est principalement utilisé pour les expériences sur les circuits numériques et analogiques en électronique. De structure modulaire, chaque module est indépendant des autres. La combinaison de différents composants dans chaque zone permet de réaliser une grande variété de circuits expérimentaux. Le schéma du circuit est imprimé sur la face avant du boîtier, tandis que les composants sont intégrés à l’arrière. Chaque point de test est équipé d’un trou de test. Ce boîtier est facile à utiliser, fiable, durable et très performant. L’unité expérimentale principale est complétée par des modules expérimentaux. Des modules d’extension peuvent être sélectionnés en fonction des besoins pour compléter le contenu expérimental et répondre aux exigences de l’enseignement expérimental. II. Configuration de l’équipement
1. Alimentation : Entrée : CA 220 V ±10 %, 50 Hz ; Sortie : CC : +5 V, I ≥ 1 A, CC : ±12 V, I ≥ 0,2 A, CC : -5 V à -12 V réglable, I ≥ 0,2 A, CC : +5 V à +27 V réglable, I ≥ 0,2 A. Chaque sortie est protégée contre les surintensités et dispose d’une fonction de récupération automatique. CA : 7,5 V × 2 ; CA : I ≥ 0,15 A.
2. Source de signal CC : double canal –0,5 V à +0,5 V ; –5 V à +5 V, deux vitesses réglables en continu.
3. Générateur de fonctions : fréquence de sortie : 2 Hz à 90 kHz, quatre vitesses de sortie : signal carré (0 à 20 V), signal triangulaire (0 à 15 V) et signal sinusoïdal (0 à 10 V).
4. Deux circuits d’impulsion unique manuels (avec anti-rebond) : chaque circuit peut générer simultanément des impulsions positives et négatives, d’amplitude TTL.
5. Dix sources d’impulsions à fréquence fixe, sortie TTL : 1 Hz, 10 Hz, 100 Hz, 1 kHz, 10 kHz, 100 kHz, 500 kHz, 1 MHz, 5 MHz et 10 MHz.
6. Affichage numérique LED : (1) Les LED 0 à 3 sont composées de tubes numériques LED à cathode commune à 7 segments (4 chiffres) et de décodeurs binaire-décimal. (2) Les LED 4 et 5 sont des afficheurs à 7 segments (2 chiffres) dont les codes (a, b, c, d, e, f, g, h) sont connectés à la prise via des résistances.
7. Commutateur d’entrée de niveau logique 12 bits : accepte les niveaux bas (« 0 ») et haut (« 1 »).
8. Voyant de niveau logique 12 bits : allumé pour un niveau haut (« 1 ») et éteint pour un niveau bas (« 0 »).
9. Un sélecteur de code BCD permettant de générer quatre signaux numériques BCD.
10. Fréquencemètre numérique à 4 chiffres : plage de mesure de 0 à 1 MHz, utilisé pour mesurer les signaux carrés, triangulaires et sinusoïdaux.
11. Haut-parleur et circuit de commande. Il s’agit d’un appareil de génération sonore pour l’affichage de l’heure, l’alarme et la musique.
12. Groupe de potentiomètres : 1 kΩ, 10 kΩ, 100 kΩ et 1 MΩ.
13. Zone d’expérimentation ouverte (bibliothèque de composants) : comprend 9 supports verrouillables (3 à 14 broches et 5 à 16 broches), un support verrouillable à 40 broches et un support pour circuit intégré à 8 broches. Elle fournit des composants tels que des résistances, des condensateurs, des diodes, des triodes et des régulateurs de tension à trois bornes.
14. Circuits du module expérimental : (1) Circuit de redressement et de filtrage ; (2) Circuit régulateur de tension série ; (3) Circuit régulateur de tension ajustable ; (4) Amplificateur de puissance ; (5) Circuit amplificateur opérationnel intégré.
15. Toutes les prises d’entrée et de sortie sont plaquées or, anti-oxydation, inaltérables et assurent un contact optimal.
16. Boîtier expérimental en alliage d’aluminium, plaque ignifugée, robuste et durable, au design élégant.
17. Dimensions : 530 mm × 360 mm × 100 mm.
18. Système d’acquisition numérique :
III. Projets expérimentaux de ce coffret d’expérimentation complet pour circuits numériques et analogiques
(I) Expériences analogiques
1. Exercices d’utilisation d’instruments électroniques courants : test des paramètres des diodes et des transistors à l’aide d’un multimètre
2. Circuit amplificateur à un étage
3. Circuit amplificateur à deux étages
4. Circuit amplificateur à contre-réaction
5. Suiveur d’émetteur
6. Circuit amplificateur différentiel
7. Test des paramètres d’un amplificateur opérationnel intégré
8. Circuit de sommation proportionnelle
9. Circuit intégral et différentiel
10. Circuit de génération de formes d’onde
11. Filtre actif
12. Comparateur de tension
13. Oscillateur sinusoïdal RC intégré
14. Amplificateur de puissance intégré
15. Filtre de redressement et circuit régulateur de tension parallèle
16. Circuit régulateur de tension série
17. Régulateur de tension intégré
18. Oscillateur sinusoïdal RC
19. Oscillateur LC et amplificateur de sélection de fréquence
20. Circuit de conversion courant/tension
21. Circuit de conversion tension/fréquence
22. Amplificateur de puissance symétrique complémentaire
23. Conversion de formes d’onde Circuit
24. Expérience avec un tube à effet de champ
25. Expérience complète sur un circuit SCR
26. Conception et mise au point d’un multimètre composé d’un amplificateur opérationnel.
(II) Expérimentation en électronique numérique
1. Fonctionnement et test des circuits logiques à portes logiques
2. Expérimentation sur les circuits logiques combinatoires (demi-additionneur, additionneur complet et opérations logiques)
3. Expérimentation sur les déclencheurs (I) R-S, D, JK
4. Expérimentation sur les déclencheurs (II) Déclencheur à trois états, verrouillage
5. Test et recherche sur les circuits de temporisation
6. Expérimentation sur les compteurs et registres intégrés
7. Expérimentation sur les décodeurs et les sélecteurs de données
8. Expérimentation sur les générateurs de formes d’onde et les déclencheurs monostables
9. Expérimentation sur le circuit de base de temps 555
Expériences optionnelles :
10. Caractéristiques de commutation des transistors, limiteur et clamp
11. Test des paramètres des circuits à portes TTL
12. Test des circuits à portes CMOS
13. Expérimentation sur les circuits de conversion analogique-numérique (A/D)
14. Expérimentation sur les circuits de conversion numérique-analogique (N/A)
15. Expérimentation sur les applications des circuits de temporisation
16. Expérimentation sur les circuits de décision à quatre voies
17. Expérimentation sur les machines à réponses automatiques